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SOP-16-1.27-7.62-300MIL测试夹具/16PIN�
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FP-28-1.27-08A CNV-SOP-DIP28翻盖编程座 芯片测试座 适配器
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ENPLAS
FP-28-1.27-08A CNV-SOP-DIP28翻盖编程座 芯片测试座 适配器
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IC51-0242-1341-改16PIN
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YAMAICHI
CSOP-16-0.65-6.4X5.5X7.8H2.65 CSOP-16-0.65-6.4X5.2
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A-BGA-256-1.27-24*24测试
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SZJ/AUTMWELL
BGA-256-1.27-24.0X24.0MM-16X16-H2.2-D0.89/0.7-0.6
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A-CLGA-484-1.27-29*29(不植球) 鋁料+旋扭 测试
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CLGA-484-1.27-29.0X29.0MM(不植球) 鋁料+旋扭 测试
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A-CQFP-48-0.5-7.8X7.8(9.0X9.0)测试用
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CQFP-48-0.5-9.0X9.0MM(7.8X7.8MM)测试用 QFP
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A-FBGA-144-1.0-13*13(POGOPIN) 頻率200M 金屬+旋扭 测试
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FBGA-144-1.0-13.0X13.0MM(POGOPIN) 頻率200M 金屬+旋扭 测试
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A-LGA-708-1.0-25*31测试
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LGA-708-1.0-25.0X31.0MM-24X30 LGA-720-1.0-25.0X31.
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A-TSSOP-16-0.65-4.4*5测试
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TSSOP-16-0.65-6.4X4.3X4.9H1.1 2M 50MA 50V -40-+150
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A-TSSOP-16-0.65-6.4*4.3X4.9H1.1-测试
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TSSOP-16-0.65-6.4X4.3X4.9H1.1 2M 2A 30V -40-+150度
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BGA-100-1.0-12.0X16.0-8X11EMMC100下压弹片转USB测试座
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BGA-88-1.0-12.0X16.0-8X11EMMC100下压弹片转USB测试座
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BGA-100-1.0-12.0X18.0-8X11-EMMC100下压弹片转USB测试座
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BGA-88-1.0-12.0X18.0-8X11EMMC100下压弹片转USB测试座
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BGA-100-1.0-13.0X15.0-8X11EMMC100下压弹片转USB测试座
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BGA-88-1.0-13.0X15.0-8X11EMMC100下压弹片转USB测试座
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BGA-100-1.0-14.0X18.0-8X11EMMC100下压弹片转USB测试座
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BGA-88-1.0-14.0X18.0-8X11EMMC100下压弹片转USB测试座
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BGA-132-1.0-14.0X18.0 4CE闪存测试座一拖四 BGA132转48适配器
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BGA-132-1.0-14.0X18.0 4CE闪存测试座一拖四 BGA132转48适配器
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BGA-132-1.0-14.0X18.0 SSD闪存测试座一拖四 BGA32转96适配器
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BGA-132-1.0-14.0X18.0 SSD闪存测试座一拖四 BGA132转96适配器
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BGA-132-1.0-14.0X18.0 测试8CE转96 BGA132一拖二转96适配器
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BGA-152-1.0-14.0X18.0 4CE闪存测试座一拖四 BGA152转48适配器
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BGA-152-1.0-14.0X18.0 SSD闪存测试座一拖四 BGA152转96适配器
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BGA-152-1.0-14.0X18.0 测试8CE转96 BGA152一拖二转96适配器
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BGA-152-1.0-14.0X18.0 测试8CE转96 BGA152一拖二转96适配器
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BGA-169-1.0-14.0X14.0-13X13-H1.84-D0.60/0.5 测试化金属旋钮FOR 1.25G 2A 3.5W
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BGA-169-1.0-14.0X14.0-13X13-H1.84-D0.60/0.5
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BGA-17-0.5-12.0X18.0 EMCP162转20PIN测试座 翻盖式
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BGA-17-0.5-12.0X18.0 EMCP162转20PIN测试座 翻盖式
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BGA-17-0.5-12.0X18.0 EMCP186转20PIN测试座 翻盖式
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BGA-17-0.5-12.0X18.0 EMCP186转20PIN测试座 翻盖式
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BGA-170-0.8-12.0X14.0/GDDR5翻盖探针通用芯片测试座
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BGA-170-0.8-12.0X14.0/GDDR5翻盖探针通用芯片测试座
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BGA-170-0.8-12.0X18.0/GDDR5翻盖探针通用芯片测试座
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BGA-20-0.5-11.5X13.0EMCP153转20PIN测试座 翻盖式
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BGA-20-0.5-11.5X13.0EMCP162转20PIN测试座 翻盖式
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BGA-20-0.5-11.5X13.0EMCP169转20PIN测试座 翻盖式
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BGA-20-0.5-11.5X13.0EMCP186转20PIN测试座 翻盖式
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BGA-209-1.0-24.0X11.0-19X11-H1.7-D0.6/0.5 旋钮测试
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BGA-272-0.8-14.0X18.0/2246EN转BGA272一拖二夹具(256X16MB)
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BGA-272-0.8-14.0X18.0 2246EN转BGA272一拖二夹具(256X16MB)
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BGA-30-0.5-11.5X13.0 EMCP162转20PIN测试座下压式
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BGA-30-0.5-11.5X13.0 EMCP162转20PIN测试座下压式
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BGA-30-0.5-11.5X13.0 EMCP186转20PIN测试座下压式
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BGA-30-0.5-11.5X13.0 EMCP186转20PIN测试座下压式
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BGA-77-1.27-15.0*9.0-11*7-POGOPIN 旋钮测试
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BGA-77-1.27-15.0*9.0-11*7-POGOPIN 旋钮测试
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BGA-88-0.8-12.0X18.0/2256K转DIP48一拖二夹具(256X16MB)
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BGA-88-0.8-12.0X18.0转DIP48一拖二夹具(256X16MB)
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BGA-88-1.0-12.0X18.0/2246EN转DIP48一拖四夹具(128X16MB)
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BGA-88-1.0-12.0X18.0/256K转BGA132/152一拖二夹具(256X16MB)
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BGA-88-1.0-12.0X18.0/256K转BGA132/152一拖二夹具(256X16MB
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BGA-88-1.0-14.0X18.0 4CE闪存测试座一拖四 BGA88转48适配器
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BGA-88-1.0-14.0X18.0 4CE闪存测试座一拖四 BGA88转48适配器
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BGA-88-1.0-14.0X18.0 测试8CE转96 BGA88一拖二转96适配器
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BGA-88-1.0-14.0X18.0/2246EN转BGA132/152一拖二夹具(256X16MB,128X16MB)
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BGA-88-1.0-14.0X18.0/2246EN转BGA132/152一拖二夹具(256X16
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BGA-88-1.0-14.0X18.0/256K转BGA132/152一拖二夹具(256X16MB)
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BGA-88-1.0-14.0X18.0/256K转BGA132/152一拖二夹具(256X16MB
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BGA-88-1.0-14.0X18.0/SSD闪存测试座一拖四 BGA100/88转96适配器
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BGA-96-0.8-11.0X9.5/DDR4X8一拖八测试冶具(台湾订制版)
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BGA-96-0.8-11.0X9.5/DDR4X8一拖八测试冶具(台湾订制版)
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BGA-96-0.8-9.0X8.0/DDR SMI2246EN/2256K测试夹具
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BGA-96-0.8-9.0X8.0/DDR SMI2246EN/2256K测试夹具
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CH341-SOP-8-1.27-7.62-300MIL测试夹具/8PIN弯针夹子
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CH341-SOP-8-1.27-7.62-300MIL测试夹具/8PIN弯针夹子
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DDR3×16一拖四内存颗粒测试治具BGA-96-0.8-铝合翻盖FR4
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BGA-96-0.8 DDR3小于13X14尺寸 1.5A 28G PG 2.4KMHZ
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DDR3X16一拖八内存颗粒测试治具BGA-96-0.8-铝合翻盖FR4
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BGA-96-0.8 DDR3小于13X14尺寸 1.5A 28G PG 2.4KMHZ
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DFN-12-0.4 QFN-12-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针
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SZJ/南韩POGOPIN
DFN-12-0.4 QFN-12-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针
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DFN-12-0.5 QFN-12-0.5 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针
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SZJ/南韩POGOPIN
DFN-12-0.5 QFN-12-0.5 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针
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DFN2X2-8L(0.5)转DIP8老化测试座带板/CNV-DFN8-DIP
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SZJ/HI-REL/HR/QSYQ
DFN-8-0.5-2.0X2.0-4;0
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EMCP162转20PIN测试座(翻盖)BGA-162-0.5-11.5X13.0
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EMCP162转20PIN测试座(翻盖)BGA-162-0.5-11.5X13.0数据恢复测试
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EMCP162转20PIN测试座(翻盖)BGA-162-0.5-12.0X16.0
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EMCP162转20PIN测试座(翻盖)BGA-162-0.5-12.0X16.0数据恢复测试
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EMCP162转20PIN测试座(下压)BGA-162-0.5-11.5X13.0
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EMCP162转20PIN测试座(下压)BGA-162-0.5-11.5X13.0数据恢复测试
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EMCP162转20PIN测试座(下压)BGA-162-0.5-12.0X16.0
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EMCP162转20PIN测试座(下压)BGA-162-0.5-12.0X16.0数据恢复测试
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EMCP186转20PIN测试座(翻盖)BGA-186-0.5-11.5X13.0
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EMCP186转20PIN测试座(翻盖)BGA-186-0.5-11.5X13.0数据恢复测试
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EMCP186转20PIN测试座(翻盖)BGA-186-0.5-12.0X16.0
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EMCP186转20PIN测试座(翻盖)BGA-186-0.5-12.0X16.0数据恢复测试
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EMCP186转20PIN测试座(下压)BGA-186-0.5-11.5X13.0
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EMCP186转20PIN测试座(下压)BGA-186-0.5-11.5X13.0数据恢复测试
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EMCP186转20PIN测试座(下压)BGA-186-0.5-12.0X16.0
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EMCP186转20PIN测试座(下压)BGA-186-0.5-12.0X16.0数据恢复测试
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EMCP221-0.5-17-11.5X13.0EMCP221转20PIN测试座 翻盖式
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EMCP221-0.5-17-11.5X13.0EMCP221转20PIN测试座 翻盖式
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EMCP221-0.5-17-11.5X13.0EMCP221转20PIN测试座下压式
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EMCP221-0.5-17-11.5X13.0EMCP221转20PIN测试座下压式
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EMCP-UBGA-153-0.5-11.5X13.0 SMT翻盖分析测试冶具
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EMCP-UBGA-153-0.5-12.0X18.0螺丝固定/PG/翻盖旋钮
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EMCP-UBGA-153-0.5-12.0X16.0 SMT翻盖分析测试冶具
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EMCP-UBGA-153-0.5-12.0X16.0螺丝固定/PG/翻盖旋钮
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EMCP-UBGA-153-0.5-12.0X18.0 SMT翻盖分析测试冶具
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EMCP-UBGA-153-0.5-12.0X18.0螺丝固定/PG/翻盖旋钮
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EMMC-153-0.5-11.5X13.0SMT无盖分析测试冶具
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EMMC EMCP-UBGA-153-0.5-11.5X13.0螺丝固定/PG/无盖
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EMMC-153-0.5-12.0X16.0SMT无盖分析测试冶具
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EMMC EMCP-UBGA-153-0.5-12.0X16.0螺丝固定/PG/无盖
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EMMC-153-0.5-12.0X18.0SMT无盖分析测试冶具
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EMMC EMCP-UBGA-153-0.5-12.0X18.0螺丝固定/PG/无盖
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EMMC-153-0.5-14.0X18.0SMT无盖分析测试冶具
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EMMC EMCP-UBGA-153-0.5-14.0X18.0螺丝固定/PG/无盖
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EMMC153-169-0.5-11.5X13.0下压弹片转SD测试座
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BGA-153-0.5-11.5X13.0 FBGA-169-0.5-11.5X13.0下压转SD
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EMMC153-169-0.5-12.0X16.0下压弹片转SD测试座
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BGA-153-0.5-12.0X16.0 FBGA-169-0.5-12.0X16.0下压转SDD
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EMMC153-169-0.5-12.0X18.0下压弹片转SD测试座
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BGA-153-0.5-12.0X18.0 FBGA-169-0.5-12.0X18.0下压转SD
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EMMC153-169-0.5-14.0X18.0下压弹片转SD测试座
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BGA-153-0.5-14.0X18.0 FBGA-169-0.5-14.0X18.0下压转SD
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EMMC-UBGA-153-0.5-11.5X13.0测试座转DIP48转SD测座
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EMMC-UBGA-153-0.5-11.5X13.0测试座转DIP48转SD测试座
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EMMC-UBGA-153-0.5-12.0X16.0测试座转DIP48转SD测座
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EMMC-UBGA-153-0.5-12.0X16.0测试座转DIP48转SD测试座
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EMMC-UBGA-153-0.5-12.0X18.0EMMC带盒子测试座
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EMMC-UBGA-153-0.5-12.0X18.0EMMC带盒子测试座
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EMMC-UBGA-153-0.5-12.0X18.0测试座转DIP48转SD测座
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EMMC-UBGA-153-0.5-14.0X18.0EMMC带盒子测试座
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EMMC-UBGA-153-0.5-14.0X18.0EMMC带盒子测试座
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EMMC-UBGA-153-0.5-14.0X18.0测试座转DIP48转SD测座
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EMMC-UBGA-153-0.5-14.0X18.0测试座转DIP48转SD测试座
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FBGA-256-1.0-17.0X17.0-16X16-H1.86-D0.6/0.5 旋钮翻盖型 测试 进口 POGOPIN(爪子型)
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FBGA-256-1.0-17.0X17.0-16X16-H1.86-D0.6/0.5 旋钮翻盖型
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FP-28-1.27-08A CNV-SOP-DIP28翻盖编程座 芯片测试座 适配器
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FP-28-1.27-08A CNV-SOP-DIP28翻盖编程座 芯片测试座 适配器
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LC88E1145-LGA-364-1.0-21.0*21.0-20*20-H1.44-D0.5 要求1.25G,功率4.5瓦 测试用 金属旋钮6只
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LC88E1145-LGA-364-1.0-21.0*21.0-20*20-H1.44-D0.5
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LGA-133-1.27-15.0X15.0-12X12-H4.32 旋钮测试
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LGA-133-1.27-15.0X15.0-12X12-H4.32 旋钮测试
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LGA-144-1.27-16.0X16.0-12X12-H4.4 测试用、旋盖
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LGA-144-1.27-16.0X16.0-12X12-H4.4 测试用、旋盖
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LPHONE/5C/5S IPAD1/2/3硬盘测试座
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LGA-60-1.0-12.0X17.0LPHONE/5C/5S IPAD1/2/3硬盘测试座
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LS-SIP-2R401-PBGA-841-1.0-30.0X30.0-29X29-H5.15(MAX)-D0.6/0.5 1A 1G 2W 测试
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LS-SIP-2R401-PBGA-841-1.0-30.0X30.0-29X29-H5.15(MA
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LUC1843A LCC-20-1.27-8.85X8.85H2.3 POGOPIN 寿命1万次以上 2A每根 -65--+150度 测试金属旋钮
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LUC1843A LCC-20-1.27-8.85X8.85H2.3 POGOPIN 寿命
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LUC1843A CLCC-20-1.27-8.85X8.85H2.3 金属旋钮POGOPIN 测试用
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LUC1843A CLCC-20-1.27-8.85X8.85H2.3 金属旋钮POGOPIN 测
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Q F N-96-0.35-10.0*10.0-24*24-H0.75普通测试金属旋钮
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Q F N-96-0.35-10.0*10.0-24*24-H0.75普通测试金属旋钮
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QFN-128-0.4-14.0X14.0-32;32H0.75(POGOPIN) 测试用旋钮金属
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QFN-128-0.4-14.0X14.0-32;32H0.75(POGOPIN) 测试用旋钮金
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SOP-16-1.27-7.62-300MIL测试夹具/16PIN弯针夹子
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SOP-16-1.27-7.62-300MIL测试夹具/16PIN弯针夹子
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SOP-16-1.27-7.62-300MIL测试夹具/16PIN直针夹子
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SOP-16-1.27-7.62-300MIL测试夹具/16PIN直针夹子
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SOP-8-1.27-7.62-300MIL在线测试夹具/8PIN快速夹具带杜邦线连接器
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SOP-8-1.27-7.62-300MIL在线测试夹具/8PIN快速夹具带杜邦线连接器
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TQFP-100-0.5-16X16H1.2 POGOPIN-100MHZ旋钮测试插座
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TQFP-100-0.5-16X16H1.2 POGOPIN-100MHZ旋钮测试插座
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UBGA-169-0.5-10.0X13.0-14X14 EMMC带盒子测试座
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UBGA-169-0.5-6.0X6.0-13X13 EMMC带盒子测试座
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UBGA-169-0.5-6.0X6.0-13X13 EMMC带盒子测试座
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UBGA-169-0.5-7.0X7.0-13X13 EMMC带盒子测试座
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UBGA-169-0.5-8.0X8.0-13X13 EMMC带盒子测试座
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UBGA-169-0.5-9.0X9.0-16X16 EMMC带盒子测试座
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UBGA-30-0.5-12.0X16.0MM EMMC153转20测试座下压式
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UBGA-30-0.5-12.0X16.0MM EMMC169转20测试座下压式
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XC65SLX55-3CSG324I BGA-324-0.8-15.0X15.0-18X18-H1.25-D0.45/0.4 测试旋钮
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XC65SLX55-3CSG324I BGA-324-0.8-15.0X15.0-18X18-H1
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XC9828A-SOP-18+3-0.45-5.0X5.0-H2.0 旋钮测试
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SMD;SP232EEN-L/TR;RS232;120KB/S;5V;16 NARROW SO;16PIN;-40C;85C;2 DRIVER/2 RECEIVER
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